本發(fā)明公開(kāi)了一種磁盤數(shù)據(jù)保持能力測(cè)試方法、系統(tǒng)、裝置及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，對(duì)第一預(yù)設(shè)溫度范圍內(nèi)的第一測(cè)試樣本進(jìn)行不間斷測(cè)試，是其P/E達(dá)到100％，再對(duì)該第一測(cè)試樣本在第二預(yù)設(shè)溫度范圍內(nèi)進(jìn)行全盤校驗(yàn)寫(xiě)操作得到第一待校驗(yàn)磁盤，通過(guò)對(duì)常溫下放至第一預(yù)設(shè)時(shí)間的第一待校驗(yàn)磁盤進(jìn)行寫(xiě)校驗(yàn)來(lái)確定發(fā)生數(shù)據(jù)丟失的第一失效磁盤數(shù)，并以此判斷第一測(cè)試樣本對(duì)應(yīng)的所有待測(cè)磁盤的數(shù)據(jù)保存能力是否合格?？梢?jiàn)，在本方案中，對(duì)測(cè)試樣本進(jìn)行測(cè)試之前需要在不同溫度進(jìn)行不同的測(cè)試操作，從而使測(cè)試樣本更接近真實(shí)的數(shù)據(jù)保存期范圍內(nèi)最大消耗狀態(tài)的磁盤，從而可以對(duì)磁盤進(jìn)行數(shù)據(jù)保持能力的測(cè)試，且測(cè)試結(jié)果也更加準(zhǔn)確。