本發(fā)明公開了一種可靠性同測裝置及其控制方法,用于微控制器
芯片內(nèi)置大容量存儲器可靠性測試,可實現(xiàn)多芯片并行測試。同時以測試區(qū)間可配置的形式,可選擇全部覆蓋存儲空間,也可以選擇以不同芯片不同區(qū)間的等效方式以覆蓋全面,從同測數(shù)與測試空間配置兩方面兼顧測試效率、優(yōu)化測試時間。記錄測試結果的同時,保存所有在測芯片的失效現(xiàn)場信息,便于對任何一個失效芯片進行分析。該方法基于測試硬件主控制板、上位機控制,還包括被測微控制器存儲器測試程序。以較小的成本實現(xiàn)批量微控制器的存儲器測試,廣泛應用于各類微控制器芯片耐久力等可靠性自驗證中。
聲明:
“可靠性同測裝置及其控制方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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