本公開提供了一種存儲器的檢測方法、檢測系統(tǒng)、計算機可讀介質與電子設備,檢測方法包括:向一目標字線連接的存儲單元中寫入第一電壓,與相鄰的至少一條其他字線連接的存儲單元中寫入第二電壓;或者,向一目標字線連接的存儲單元中寫入第二電壓,與相鄰的至少一條其他字線連接的存儲單元中寫入第一電壓;第一電壓大于第二電壓;向其他字線重復寫入第一電壓或第二電壓;讀取目標字線連接的存儲單元,并判斷各存儲單元的讀取結果是否等于其寫入的第一電壓或第二電壓;若存儲單元的讀取結果是不等于其寫入的第一電壓或第二電壓,則判斷該存儲單元漏電。能夠將具有潛在雙位元失效的
芯片提前篩選出來。
聲明:
“存儲器的檢測方法、檢測系統(tǒng)、可讀介質及電子設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)