本發(fā)明提供了一種液晶面板顯示驅(qū)動(dòng)
芯片的電性分析方法,該方法包括以下步驟:A、分析液晶面板顯示異常的表現(xiàn)方式,尋找加電方式的依據(jù);B、研究液晶面板顯示驅(qū)動(dòng)芯片的各引腳的功能,確定需要進(jìn)行電性判斷的引腳;C、根據(jù)芯片的引腳布局圖和PCB板的引線布局圖,確定在開蓋前的電性測(cè)量位置,測(cè)量開蓋前的電性;D、開蓋后,使用探針直接探測(cè)芯片的引腳,進(jìn)行加電測(cè)量,得出開蓋后的電性特征;E、開蓋前后的異常電性對(duì)比,判斷失效點(diǎn)在封裝級(jí)還是在晶圓級(jí)。本發(fā)明通過該種適合于液晶面板顯示驅(qū)動(dòng)芯片的電性分析方法,能夠有效、合理地對(duì)開蓋前后的電性特征進(jìn)行比對(duì),便于后續(xù)做出失效點(diǎn)是在封裝級(jí)還是在晶圓級(jí)的判斷。
聲明:
“液晶面板顯示驅(qū)動(dòng)芯片的電性分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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