本發(fā)明公開了一種ATE快速獲取存儲器失效地址的方法,掃瞄整個失效位抓取RAM時,不再從起始地址開始讀,而是先從矢量RAM中讀取第一個失效周期,獲取該失效周期指向的地址引腳狀態(tài),構造以字符表示的地址引腳狀態(tài)與以數(shù)值表示的引腳狀態(tài)的對應關系,然后將第一個失效周期對應的地址引腳狀態(tài)轉(zhuǎn)換成16進制行地址和列地址,將該行地址和列地址作為掃瞄整個失效位抓取RAM的起始地址。本發(fā)明能夠合理使用ATE所存在的硬件資源,優(yōu)化獲取失效地址的方法,減少測試時間。
聲明:
“ATE快速獲取存儲器失效地址的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)