本申請(qǐng)公開(kāi)了多層大規(guī)模集成電路電磁仿真失效頻率確定方法及系統(tǒng),首先獲取集成電路的介質(zhì)類型和基于版圖特征尺寸得到的剖分網(wǎng)格的尺寸范圍,然后構(gòu)建集成電路全波電磁仿真的矢量有限元系統(tǒng)方程組,得到不同所述介質(zhì)類型下的所述方程組的剛度矩陣與質(zhì)量矩陣,然后基于所述尺寸范圍得到不同矩陣元素之間的與尺寸相關(guān)的量級(jí)比,最后獲取仿真運(yùn)算時(shí)采用的機(jī)器精度,基于所述機(jī)器精度和所述量級(jí)比算出集成電路的失效頻率。該方法能夠基于單元尺寸計(jì)算出全波分析的失效頻率,由此獲取到在何種頻率下的電磁場(chǎng)分析是必定不準(zhǔn)確的,為后續(xù)低頻下的準(zhǔn)確計(jì)算提供支持,使得徹底解決現(xiàn)有求解器在針對(duì)集成電路的低頻情況下的失效問(wèn)題成為可能。
聲明:
“多層大規(guī)模集成電路電磁仿真失效頻率確定方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)