本發(fā)明涉及用于
復(fù)合材料層內(nèi)失效模式的測試數(shù)據(jù)簡化的方法。一種方法利用來自一系列FEM模型的結(jié)果形成合規(guī)性曲線的主導(dǎo)數(shù)。使用獨(dú)特的主曲線解決了由單獨(dú)擬合合規(guī)性曲線造成的測試數(shù)據(jù)波動問題。分析得到的合規(guī)性曲線的導(dǎo)數(shù)消除取合規(guī)性的導(dǎo)數(shù)的需要并且因此不再存在導(dǎo)數(shù)計(jì)算誤差。通過將現(xiàn)有的解決方案和本文中所公開且要求保護(hù)的解決方案應(yīng)用于相同組的原始測試數(shù)據(jù),發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)離散顯著地降低。
聲明:
“用于復(fù)合材料層內(nèi)失效模式的測試數(shù)據(jù)簡化的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)