一種半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng),包括:模式存儲(chǔ)器;評(píng)估DUT輸出信號(hào)的裝置;數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器;和壓縮裝置,用于在第一次測(cè)試操作中將模式存儲(chǔ)器的多個(gè)地址分配給數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器的一個(gè)地址,以便將每組多個(gè)地址發(fā)生的失效數(shù)據(jù)以預(yù)定的壓縮比存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器的相應(yīng)地址中,并用于僅對(duì)檢測(cè)到失效數(shù)據(jù)的一組模式存儲(chǔ)器的多個(gè)地址執(zhí)行第二次測(cè)試操作,第二次測(cè)試操作時(shí)沒有地址壓縮。因此,使失效數(shù)據(jù)能夠存儲(chǔ)在小存儲(chǔ)容量的數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器中。
聲明:
“半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)的數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)壓縮” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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