本發(fā)明公開了一種基于深度度量學(xué)習(xí)的EDA電路失效分析方法,包括步驟:一、根據(jù)原始分布對(duì)EDA電路樣本進(jìn)行蒙特卡羅采樣,生成蒙特卡羅采樣樣本,并進(jìn)行蒙特卡羅仿真,得到失效仿真結(jié)果;二、通過步驟一的蒙特卡羅采樣樣本和失效仿真結(jié)果,訓(xùn)練一個(gè)能夠?qū)⑹颖緟^(qū)分出來的深度度量學(xué)習(xí)模型;三、對(duì)待進(jìn)行失效分析的EDA電路,采用蒙特卡羅采樣方法生成足夠多的失效分析樣本,并利用步驟二中訓(xùn)練的深度度量學(xué)習(xí)模型對(duì)樣本進(jìn)行篩選,篩選出可能失效樣本;四、對(duì)可能失效樣本進(jìn)行SPICE電路仿真,得到失效的EDA電路并計(jì)算出失效率。本發(fā)明仿真效率高,可靠性高,在先進(jìn)工藝大規(guī)模電路的仿真分析中具有明顯的優(yōu)勢(shì)。
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“基于深度度量學(xué)習(xí)的EDA電路失效分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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