本發(fā)明公開了一種基于回歸分析的電磁環(huán)境中TCU失效預警方法,包括步驟:(1)通過電磁時域仿真軟件確定TCU電路板圖上的敏感器件;(2)在敏感器件上設置若干個探頭,監(jiān)視感應電壓波動或感應電流波動,若出現(xiàn)異常則記錄到異常日志中;(3)對異常日志p
n進行信息提取,構(gòu)造異常信息向量s
n,并評估其失效模式概率
(4)建立歷史異常信息與失效模式之間的關(guān)系,構(gòu)造失效檢測器;(5)利用失效檢測器對實時異常信息向量s
n進行評估,判斷其失效趨勢及是否發(fā)出預警。本發(fā)明充分利用回歸分析有監(jiān)督學習的特征,不斷擴大失效模式,修正預警時間參數(shù),提高預警的精確性。本發(fā)明方法可為晶閘管級的檢修提供支撐,應用價值和前景巨大。
聲明:
“基于回歸分析的電磁環(huán)境中TCU失效預警方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)