本實(shí)用新型提供的一種集成電路測(cè)試裝置，包括集成電路測(cè)試座，集成電路測(cè)試座的頂部向內(nèi)凹設(shè)有測(cè)試槽，測(cè)試槽內(nèi)壁兩側(cè)相對(duì)設(shè)置有限位槽，限位槽內(nèi)均滑動(dòng)安裝有滑塊，兩個(gè)滑塊相互靠近的一端上均設(shè)置有卡塊，兩個(gè)滑塊相互背離的一端上均安裝有拉桿，拉桿延伸至集成電路測(cè)試座外并固定安裝有把手，拉桿上套設(shè)有彈簧，彈簧的一端連接所述滑塊，彈簧的另一端連接限位槽內(nèi)壁。采用上述技術(shù)方案，進(jìn)行測(cè)試時(shí)，當(dāng)接觸件出現(xiàn)氧化或損壞的情況時(shí)，只需向外拉動(dòng)拉桿，使卡塊不再抵持在測(cè)試板的上表面，便能將測(cè)試板快速取出，再將正常無(wú)損壞的測(cè)試板底部的接腳對(duì)準(zhǔn)集成電路測(cè)試座的接觸件，向下按壓，便能將測(cè)試板快速固定在測(cè)試槽內(nèi)，實(shí)現(xiàn)測(cè)試板的快速更換。