本發(fā)明涉及無(wú)損探傷技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種超聲波探傷缺陷定位測(cè)量裝置及其使用方法。本發(fā)明用于現(xiàn)場(chǎng)超聲波無(wú)損探傷并發(fā)現(xiàn)埋藏缺陷時(shí)的輔助定位測(cè)量缺陷的長(zhǎng)度,應(yīng)用本發(fā)明所述裝置進(jìn)行定位測(cè)量長(zhǎng)度時(shí),能夠直觀和更為精確的對(duì)于缺陷進(jìn)行定位和測(cè)長(zhǎng),并且操縱更為簡(jiǎn)便。
聲明:
“超聲波探傷缺陷定位測(cè)量裝置及其使用方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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