本發(fā)明公開了一種金箔含金量的快速測定方法,其特征在于,該方法包括以下步驟:步驟1、對金箔樣品進行前處理;步驟2、軋緊金箔樣品;步驟3、儀器測試。本發(fā)明通過對金箔樣品進行前處理,再用X熒光光譜法測試,一方面解決了有損方法帶來的樣品稱量誤差的問題,另一方面更是很好的克服了金箔樣品厚度薄,在X熒光光譜儀測試中易被X熒光光束擊穿,導致數(shù)據(jù)失真的缺陷,具有快速、準確、無損耗的優(yōu)點。
聲明:
“金箔含金量的快速測定方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)