本發(fā)明公開(kāi)了一種垂直鋪塑鋪膜深度的探測(cè)方法,在垂直鋪塑工程施工完畢后,利用電阻變化無(wú)損探測(cè)其鋪膜深度,具體為:首先在垂直鋪塑的防滲體表面選擇一個(gè)探測(cè)位置,在鋪膜兩側(cè)對(duì)稱(chēng)布置測(cè)點(diǎn),對(duì)稱(chēng)的兩個(gè)測(cè)點(diǎn)為一組,其連線垂直于鋪膜;其次運(yùn)用電阻測(cè)量?jī)x測(cè)量所布置的每組測(cè)點(diǎn)之間的電阻值;再次找出所測(cè)電阻值中的最小值,其對(duì)應(yīng)的測(cè)點(diǎn)間距的二分之一即為該探測(cè)位置的鋪膜深度;最后沿鋪膜方向按一定間距改變探測(cè)位置,重復(fù)以上步驟,即可測(cè)量出垂直鋪塑不同斷面的鋪膜深度,從而對(duì)垂直鋪塑的施工質(zhì)量作出整體評(píng)價(jià)。本發(fā)明可以在垂直鋪塑工程施工完畢后,無(wú)損進(jìn)行探測(cè)其鋪膜深度,操作簡(jiǎn)單,儀器簡(jiǎn)便,測(cè)量精度高。
聲明:
“垂直鋪塑鋪膜深度的探測(cè)方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)