本發(fā)明公開(kāi)了一種基于紅外差譜技術(shù)的納米纖維素薄膜含水率測(cè)量方法,選取待測(cè)納米纖維素薄膜制得基樣和不同濕度下的試樣;利用紅外光譜儀分別測(cè)得基樣的紅外光譜圖H
0和不同濕度下納米纖維素薄膜試樣的紅外光譜圖H
S;用不同濕度下納米纖維素薄膜試樣的紅外光譜圖H
S減去基樣的紅外光譜圖H
0,得到紅外差譜圖H
S?0;求得紅外差譜圖中1600?1800cm
?1范圍內(nèi)的面積A
S?0;利用干燥法測(cè)量不同濕度下納米纖維素薄膜試樣的含水率MC
S;將含水率MC
S和面積A
S?0利用最小二乘法線性回歸構(gòu)建基于紅外差譜技術(shù)的納米纖維素薄膜含水率測(cè)量模型。該模型可用于待測(cè)納米纖維素薄膜含水率的批量測(cè)定,每個(gè)試樣耗時(shí)1s,大大縮短了納米纖維素薄膜含水率的檢測(cè)時(shí)間。本發(fā)明具有檢測(cè)快速、試樣需求量少的優(yōu)點(diǎn),是一種無(wú)損檢測(cè)技術(shù),可以應(yīng)用于納米纖維素薄膜檢測(cè)領(lǐng)域。
聲明:
“基于紅外差譜技術(shù)的納米纖維素薄膜含水率測(cè)量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)