一種測(cè)量?jī)x表技術(shù)領(lǐng)域的測(cè)孔掃描規(guī),表殼、顯示器、檢測(cè)器和測(cè)量頭,其中:顯示器和測(cè)量頭分別與檢測(cè)器相連接,檢測(cè)器固定設(shè)置于表殼內(nèi),測(cè)量頭活動(dòng)設(shè)置于表殼外。本實(shí)用新型工作時(shí)在頂簧的作用下使得探針始終與待測(cè)孔的孔壁相切,同時(shí)測(cè)量桿的末端球面始與探針的斜楔相切,以此通過(guò)測(cè)量桿將探針的位移變動(dòng)量無(wú)損傳遞至感應(yīng)器以便測(cè)定相應(yīng)的微量位移。本實(shí)用新型使用快捷準(zhǔn)確,能實(shí)時(shí)記錄數(shù)據(jù),便于數(shù)據(jù)采集。
聲明:
“測(cè)孔掃描規(guī)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)