本發(fā)明公開了一種基于光熱弱吸收的熔石英元件零概率損傷閾值預(yù)測方法,步驟包括預(yù)先針對與待測熔石英元件同型號的標(biāo)準(zhǔn)熔石英元件樣品對表面的區(qū)域進(jìn)行不同程度加工,針對不同程度加工的區(qū)域進(jìn)行光熱檢測得到光熱檢測值并進(jìn)行激光閾值測試得到零概率損傷閾值,根據(jù)各個區(qū)域的光熱檢測值及其對應(yīng)的零概率損傷閾值建立待測熔石英元件的光熱檢測?零概率損傷閾值關(guān)聯(lián)曲線模型;對待測熔石英元件進(jìn)行光熱檢測得到光熱檢測值,根據(jù)所述光熱檢測?零概率損傷閾值關(guān)聯(lián)曲線模型查找對應(yīng)的零概率損傷閾值,得到待測熔石英元件的零概率損傷閾值。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)對熔石英元件的無損檢測、操作簡單、準(zhǔn)確性高、靈敏度高、能滿足強光光學(xué)系統(tǒng)使用要求。
聲明:
“基于光熱弱吸收的熔石英元件零概率損傷閾值預(yù)測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)