本發(fā)明實(shí)施例提供一種二維層狀材料異質(zhì)結(jié)堆疊序列的檢測方法及光譜測量系統(tǒng)，該方法包括：采集待檢測異質(zhì)結(jié)中單層層狀材料區(qū)域和異質(zhì)結(jié)區(qū)域在不同轉(zhuǎn)動角度下分別對應(yīng)的二次諧波光譜；提取二次諧波光譜中的單層層狀材料區(qū)域和異質(zhì)結(jié)區(qū)域在不同轉(zhuǎn)動角度下分別對應(yīng)的二次諧波信號峰值；根據(jù)二次諧波信號峰值獲取第一極坐標(biāo)分布圖和第二極坐標(biāo)分布圖；比對第一極坐標(biāo)分布圖與第二極坐標(biāo)分布圖中二次諧波信號強(qiáng)度的大小，獲得異質(zhì)結(jié)的堆疊序列檢測結(jié)果。本發(fā)明實(shí)施例通過利用層狀材料堆疊為中心對稱結(jié)構(gòu)時(shí)，二次諧波信號為零的特點(diǎn)，采用光學(xué)手段作為探針，降低了對異質(zhì)結(jié)樣品的要求，無需將樣品轉(zhuǎn)移到目載網(wǎng)上，檢測方法簡便，實(shí)現(xiàn)快速無損檢驗(yàn)。