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無損平面芯片電感測試組件及其制作方法

1113   編輯:管理員   來源:中冶有色技術網  
2023-03-19 08:58:00
一種無損平面芯片電感測試組件及其制作方法,屬于電子元器件測試領域。所述測試組件包括底座、嵌入件和校準件。底座包括底座基片、定位腔、底座電極;嵌入件包括嵌入件基片、通孔、通孔金屬化填充、嵌入件底電極、嵌入件表電極、嵌入件端電極;校準件包括校準件基片、校準件通孔、校準件通孔金屬化填充、校準件底電極、校準件表電極、校準件端電極、校準件電極連線;校準件與嵌入件的形狀、結構及尺寸一致,區(qū)別僅在于校準件的兩個表電極間設置了校準件電極連線。所述制作方法為印刷、濺射方法或生瓷片印刷燒結法。解決了現(xiàn)有技術不能用于測試平面結構芯片電感的問題。廣泛應用于小尺寸平面芯片電感測試,或其他平面型兩端口電子器件電性能測試。
聲明:
“無損平面芯片電感測試組件及其制作方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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