一種平面
芯片電感無損測試裝置,屬于電子元器件測試領域。所述測試裝置包括測試儀、高頻測試夾具、測試定位模塊、校準件、微帶線。測試定位模塊通過微帶線與高頻測試夾具連接,高頻測試夾具通過另一微帶線與所述測試儀連接,校準件與測試定位模塊連接。測試定位模塊包括模塊基片、定位腔、底面電極、通孔、通孔金屬化填充、定位腔表電極;校準件包括校準件基片、校準件表電極;校準件與定位腔的形狀、結構及尺寸一致。解決了現(xiàn)有技術不能用于測試平面結構芯片電感的問題。廣泛應用于小尺寸平面芯片電感測試,或其他平面型兩端口電子器件電性能測試。
聲明:
“平面芯片電感無損測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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