本發(fā)明公開了一種微納光柵表面粗糙度的無損檢測方法,包括如下步驟:用去離子水、無水乙醇和異丙醇對微納光柵進行超聲清洗,氮氣吹干將三甲基氯
硅烷滴到表面皿中,與微納光柵一同置于真空干燥環(huán)境下,使三甲基氯硅烷充分鈍化微納光柵的表面;將固化劑加入聚二甲基硅氧烷中,混合均勻,消泡,得到PDMS混合物;將PDMS混合物倒在表面皿中,再將微納光柵置于PDMS混合物表面,將附著PDMS混合物的微納光柵置于真空干燥環(huán)境中脫氣、固化,得到凝固仍帶有微納光柵的硅膠膜;將該硅膠膜與微納光柵進行脫模,用硅膠模進行粗糙度測試。本發(fā)明可實現(xiàn)對微納光柵表面難以測量的側壁、槽底、深孔等復雜結構進行采集和復制,為復雜的微納結構表面粗糙度測試提供了新思路。
聲明:
“微納光柵表面粗糙度的無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)