本發(fā)明公開了一種真空聲發(fā)射無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng),包括:原位拉伸機(jī);試樣基體,試樣基體固定于原位拉伸機(jī);掃描電子顯微鏡,掃描電子顯微鏡具有真空樣品倉(cāng),原位拉伸機(jī)設(shè)于真空樣品倉(cāng)內(nèi);計(jì)算機(jī)系統(tǒng),計(jì)算機(jī)系統(tǒng)分別與掃描電子顯微鏡和原位拉伸機(jī)相連;聲發(fā)射檢測(cè)探頭,聲發(fā)射檢測(cè)探頭設(shè)于真空樣品倉(cāng)內(nèi)且與試樣基體接觸;信號(hào)放大器,信號(hào)放大器設(shè)于真空樣品倉(cāng)外且通過(guò)線纜與聲發(fā)射檢測(cè)探頭相連;信號(hào)處理器,信號(hào)處理器與信號(hào)放大器相連。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的真空聲發(fā)射無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)在實(shí)現(xiàn)聲發(fā)射無(wú)損檢測(cè)的同時(shí),能夠詳細(xì)地觀察涂層材料的開裂過(guò)程,利于分析涂層材料在拉伸過(guò)程中裂紋的萌生和擴(kuò)展機(jī)制以及材料的損傷機(jī)理。
聲明:
“真空聲發(fā)射無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)