本發(fā)明公開了一種用于放射性樣品直接中子照相無(wú)損檢測(cè)的檢測(cè)裝置，包括：中子源、樣品臺(tái)、中子光路傳輸系統(tǒng)和中子探測(cè)系統(tǒng)。所述中子源、所述樣品臺(tái)、所述中子光路傳輸系統(tǒng)和所述中子探測(cè)系統(tǒng)沿著第一方向依次排布設(shè)置。通過在樣品臺(tái)和中子探測(cè)系統(tǒng)之間設(shè)置中子光路傳輸系統(tǒng)，并可根據(jù)檢測(cè)樣品的性質(zhì)等來(lái)設(shè)置中子光路傳輸系統(tǒng)的長(zhǎng)度，從而拉長(zhǎng)了檢測(cè)樣品和中子探測(cè)系統(tǒng)之間的距離，可以極大地降低檢測(cè)樣品的放射性對(duì)中子成像探測(cè)系統(tǒng)的影響，幾乎不會(huì)影響中子探測(cè)系統(tǒng)的檢測(cè)成像。如此，本發(fā)明的用于放射性樣品直接中子照相無(wú)損檢測(cè)的檢測(cè)裝置，可以利用直接中子成像方法針對(duì)放射性樣品進(jìn)行中子照相無(wú)損檢測(cè)。