本發(fā)明公開一種基于優(yōu)化的頻域介電譜的氧化鋅壓敏電阻老化狀態(tài)無損檢測方法,包括:1)設(shè)定溫度間隔,測量氧化鋅壓敏電阻在高溫下電容C的頻域響應(yīng)特性;2)計算并繪制
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與頻率f的關(guān)系譜圖(角頻率ω=2πf);3)取不同溫度T下的
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譜圖中的極值頻率fm,繪制出縱坐標(biāo)為lnfm,橫坐標(biāo)為1000/T的譜圖,并通過線性擬合計算其活化能,活化能對應(yīng)氧化鋅壓敏電阻晶界處的界面態(tài)能級。本發(fā)明通過測量氧化鋅壓敏電阻高溫下電容的頻域響應(yīng)特性,采用一種新的表征方法,將界面態(tài)電子陷阱弛豫信號從直流電導(dǎo)掩蓋中提取出來,并將界面態(tài)電子陷阱弛豫活化能作為氧化鋅壓敏電阻老化狀態(tài)的評價參數(shù)。本發(fā)明對測試試樣無損傷,是評估氧化鋅壓敏電阻老化狀態(tài)的有效手段。
聲明:
“基于優(yōu)化的頻域介電譜的氧化鋅壓敏電阻老化狀態(tài)無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)