本發(fā)明提供了一種控制包含粒子、氣泡、小滴和相界的工藝物流(4)的方法,所述方法包含利用相控陣超聲探頭(1)檢測處于一條件組下的所述工藝物流中存在的界面,例如固?液、液?液和氣?液界面,重建所述界面的圖像,以及向控制系統(tǒng)(2,3)提供所述圖像或來源于所述圖像的信息。所述控制系統(tǒng)修改或維持工藝物流中的所述條件組。所述方法可以用于控制工業(yè)的工藝物流,例如化學或石化加工廠的工藝物流。
聲明:
“使用相控陣超聲探頭的過程控制” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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