本發(fā)明提供一種篩選不受補體干擾的單克隆抗體對的方法,包括以下步驟:S10:獲得陰性樣本混合物;S20:在陰性樣本混合物中加入抗原,獲得檢測樣本一;S30:對陰性樣本混合物進行加熱,并加入抗原,獲得檢測樣本二;S40:在檢測樣本二中加入補體,獲得檢測樣本三;S50:用待選單克隆抗體對制備的化學發(fā)光試劑,對檢測樣本一、檢測樣本二和檢測樣本三分別進行免疫化學發(fā)光檢測,獲得檢測結果一、檢測結果二、檢測結果三;S60:根據檢測結果一、檢測結果二、檢測結果三,獲得不受補體干擾的單克隆抗體對。本發(fā)明解決了免疫診斷常常受到補體干擾,影響免疫檢測的準確性的技術問題,實現(xiàn)了免疫診斷不易受補體干擾,提高免疫診斷準確性的技術效果。
聲明:
“篩選不受補體干擾的單克隆抗體對的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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