本發(fā)明公開了一種解析電芯內(nèi)阻構(gòu)成要素及其變化特征的方法,包括步驟:第一步,確定預(yù)設(shè)數(shù)量k的不同研究對象;第二步,采用“容量標定?SOC標定和去極化”充放電流程,分別對每個研究對象充放電測試;第三步,對于每個研究對象,計算其電芯、正極和負極分別在不同SOC下的去極化內(nèi)阻(集總內(nèi)阻、瞬時內(nèi)阻和動力學(xué)內(nèi)阻);第四步,繪制每個研究對象的電芯、正極和負極分別具有的去極化內(nèi)阻隨著SOC變化的曲線;第五步,當k≥2時,列出內(nèi)阻增量和內(nèi)阻增量貢獻表,解析數(shù)據(jù)。本發(fā)明不借助
電化學(xué)工作站,僅需對三電極電芯做充放電測試,即可獲得電芯、正極和負極的去極化內(nèi)阻隨SOC、研究對象的變化規(guī)律,用于電芯差異和失效分析。
聲明:
“解析電芯內(nèi)阻構(gòu)成要素及其變化特征的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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