本發(fā)明涉及一種發(fā)射率測量裝置的校準(zhǔn)方法，屬于紅外測試領(lǐng)域，解決了現(xiàn)有發(fā)射率測量裝置校準(zhǔn)成本高的問題。校準(zhǔn)方法包括：根據(jù)需要得到的標(biāo)準(zhǔn)氧化膜的發(fā)射率E理論，計算得到標(biāo)準(zhǔn)氧化膜的厚度d；根據(jù)氧化膜的厚度d確定電解液的質(zhì)量濃度c；以質(zhì)量濃度c的電解液對作為陽極的鋁片進(jìn)行電化學(xué)氧化，在鋁片表面制備得到標(biāo)準(zhǔn)氧化膜；采用傅里葉紅外光譜發(fā)射率測量裝置檢測制備得到的標(biāo)準(zhǔn)氧化膜的發(fā)射率E測，E測作為標(biāo)準(zhǔn)發(fā)射率；用發(fā)射率測量裝置測量采用步驟1至步驟3的方法制備得到的一系列已知標(biāo)準(zhǔn)發(fā)射率的標(biāo)準(zhǔn)氧化膜，通過測得的數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)發(fā)射率進(jìn)行比較，以校準(zhǔn)發(fā)射率測量裝置。本發(fā)明的方法能夠快速進(jìn)行發(fā)射率測量裝置的校準(zhǔn)。