本實(shí)用新型公開了一種離子色譜安培檢測(cè)用裝置結(jié)構(gòu),涉及
電化學(xué)技術(shù)領(lǐng)域。本實(shí)用新型提供的離子色譜安培檢測(cè)用裝置結(jié)構(gòu),由下至上依次包括第一殼體、膜層、第二殼體和固定裝置;第一殼體上表面中心點(diǎn)兩側(cè)對(duì)稱設(shè)有第一導(dǎo)流孔和第二導(dǎo)流孔,第一導(dǎo)流孔與設(shè)于第一殼體周側(cè)的第一插孔相連通,第二導(dǎo)流孔與設(shè)于第一殼體周側(cè)的第二插孔相連通,第一殼體底側(cè)設(shè)有第三插孔;膜層設(shè)有橢圓形通孔,且第一導(dǎo)流孔和第二導(dǎo)流孔在膜層的映射位置位于橢圓形通孔內(nèi);第二殼體的中心處設(shè)有圓柱形通孔,圓柱形通孔與設(shè)于第二殼體周側(cè)的第四插孔相連通,圓柱形通孔的底部設(shè)有鍍銀銅片;所述第一殼體上表面與所述膜層的橢圓形通孔、第二殼體下表面共同形成電解池空間。
聲明:
“離子色譜安培檢測(cè)用裝置結(jié)構(gòu)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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