本發(fā)明公開了一種兩級顆粒分級裝置,包括一向下傾斜的第一反射板,還包括一個用于對顆粒物料進行偏析的二次偏析器,所述二次偏析器帶有可用于承載顆粒物料的上表面,所述二次偏析器位于所述第一反射板下方并且處于顆粒流的運動路徑上。本發(fā)明的兩級顆粒分級裝置對顆粒物料的粒度偏析效果好,適應性強,結(jié)構(gòu)及操作均非常簡單,成本也極低。該裝置可適用于燒結(jié)混合料偏析布料以及礦業(yè)、農(nóng)業(yè)和制藥等行業(yè)的粒狀物的偏析篩分工藝。
聲明:
“兩級顆粒分級裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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