本發(fā)明提供了一種基于氧化/還原探針的細(xì)胞生長以及形態(tài)變化檢測(cè)裝置。它包括參比電極、產(chǎn)生電極、收集電極以及對(duì)電極,所述產(chǎn)生電極和收集電極之間的距離小于等于100微米,它還設(shè)有檢測(cè)收集電極上的電極動(dòng)力學(xué)參數(shù)的雙電極恒電流電位儀。本發(fā)明還提供了一種基于氧化/還原探針的細(xì)胞生長以及形態(tài)變化檢測(cè)裝置的細(xì)胞生長檢測(cè)方法,它通過間隔一定時(shí)間測(cè)量收集電極上的電流或
電化學(xué)反應(yīng)阻抗,并對(duì)比所測(cè)數(shù)據(jù)得到測(cè)量結(jié)果。本發(fā)明還提供一種基于氧化/還原探針的細(xì)胞生長以及形態(tài)變化檢測(cè)裝置的細(xì)胞形態(tài)變化檢測(cè)方法。它通過測(cè)量和對(duì)比加入影響細(xì)胞生長和形態(tài)變化的試劑前后的收集電極上的電流或電化學(xué)反應(yīng)阻抗得到該試劑對(duì)細(xì)胞生長以及形態(tài)變化的影響結(jié)果。本發(fā)明所提供的檢測(cè)裝置和檢測(cè)方法具有更高的靈敏度。
聲明:
“基于氧化/還原探針的細(xì)胞生長以及形態(tài)變化檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)