本發(fā)明涉及一種用于確定分析物(100)中帶電顆粒濃度的方法,所述方法包括以下步驟:i)確定表面電勢對界面溫度曲線(c1、c2、c3、c4)的至少兩個測量點,其中從所述第一離子敏感電介質(zhì)(Fsd)和分析物(100)之間的第一界面和第二離子敏感電介質(zhì)(Ssd)和分析物(100)之間的第二界面之間的溫度差來獲得所述界面溫度,并且從其上分別設置了所述第一離子敏感電介質(zhì)(Fsd)和第二離子敏感電介質(zhì)(Ssd)的第一電極(Fe)和第二電極(Se)之間的電勢差來獲得所述表面電勢;以及ii)根據(jù)所述曲線(c1、c2、c3、c4)的至少兩個測量點的位置來計算所述帶電顆粒濃度。仍然是電勢
電化學測量方法的這種方法使用了分析物中的離子敏感電介質(zhì)的表面電勢的溫度依賴性。本發(fā)明還提出了一種電化學傳感器,用于確定分析物中的帶電顆粒濃度。本發(fā)明還提出了可以用于確定帶電顆粒濃度的各種傳感器,即EGFET和EIS電容器。
聲明：
“無需參考電極的電化學電勢感測” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業(yè)用途，請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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編輯：管理員
來源：中冶有色技術網(wǎng)
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2025年03月21日 ~ 23日 
