一種用于測(cè)定顆粒物的化學(xué)和/或物理性能的測(cè)定裝置(1),具有至少一個(gè)用于光譜法測(cè)定顆粒物的光學(xué)檢測(cè)探頭,其中檢測(cè)探頭為了防止顆粒物入侵,可通過(guò)一閉鎖保護(hù)機(jī)構(gòu)(16?19)暫時(shí)地鎖閉,從而在檢測(cè)探頭(3)前面形成一封閉的腔(20),而且在所述腔(20)中設(shè)有用于清洗和/或冷卻所述腔(20)和/或光學(xué)檢測(cè)探頭的清洗裝置和/或冷卻裝置。本實(shí)用新型還公開(kāi)了一種具有所述測(cè)定裝置的松散物料清除機(jī)。
聲明:
“用于測(cè)定顆粒物的化學(xué)和/或物理性能的測(cè)定裝置和松散物料清除機(jī)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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