本發(fā)明涉及儀器檢測分析技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種基于X射線熒光直接測定平板玻璃基板化學(xué)組分的方法,測定步驟包括:(1)平板玻璃基板化學(xué)組分的X射線熒光熔融法制樣測定;(2)利用步驟(1)中測定的組分含量的平板玻璃基板建立相應(yīng)組分的X射線熒光平板法測定的校準(zhǔn)曲線;(3)利用步驟(2)建立的玻璃平板測定校準(zhǔn)曲線對組分相似或相近的平板玻璃基板試樣直接進行組分測定。本發(fā)明的特點在于通過X射線熒光平板法測試校準(zhǔn)曲線的建立,可以實現(xiàn)對平板玻璃基板樣品組分的直接測定與監(jiān)控,無需對樣品再進行破碎、研磨、熔融法制樣或壓片法制樣等繁瑣處理步驟,避免了熔融法或壓片法制樣測定等過程引入的人為誤差,平板法直接測定方式簡單、準(zhǔn)確、節(jié)能、環(huán)保。
聲明:
“基于X射線熒光直接測定平板玻璃基板化學(xué)組分的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)