本發(fā)明涉及一種高通量
電化學(xué)測(cè)試裝備,其包括若干個(gè)電化學(xué)測(cè)試單元及裝備主機(jī),電化學(xué)測(cè)試單元包括
正極材料基底、
負(fù)極材料基底以及位于正、負(fù)極材料基底之間的電解質(zhì),裝備主機(jī)與正極材料基底、負(fù)極材料基底電性連接用于控制多個(gè)電化學(xué)測(cè)試單元進(jìn)行測(cè)試并分析測(cè)試結(jié)果的。本發(fā)明還提供采用上述高通量電化學(xué)測(cè)試裝備進(jìn)行高通量電化學(xué)測(cè)試方法。所述高通量電化學(xué)測(cè)試裝備及測(cè)試方法可實(shí)現(xiàn)大規(guī)模樣品的同步并行測(cè)試,正極材料基底、負(fù)極材料基底和電解質(zhì)可根據(jù)需求任意配置,極大地提高了材料研究效率,成本低,實(shí)用性強(qiáng)。
聲明:
“高通量電化學(xué)測(cè)試裝備及高通量電化學(xué)測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)