本發(fā)明公開了一種基于雙猝滅效應的雙波長比率電致化學發(fā)光法檢測As(III),通過Au?S鍵作用將As(III)適配體(Ars?3)捕獲到Au?g?C
3N
4修飾電極表面,再通過靜電作用使PDDA與Ars?3結(jié)合生成PDDA/Ars?3/Au?g?C
3N
4電極,該電極在含Ru(bpy)
32+的Na
2S
2O
8溶液中發(fā)射Au?g?C
3N
4的ECL信號;當存在As(III)時,As(III)與Ars?3特異性結(jié)合使得Ars?3的構象發(fā)生變化,導致PDDA/Ars?3/Au?g?C
3N
4電極表面釋放出部分PDDA,形成PDDA/As(III)/Ars?3/Au?g?C
3N
4電極,將該電極構成的三電極系統(tǒng)置于含Ru(bpy)
32+的Na
2S
2O
8溶液中,根據(jù)Ru(bpy)
32+與Au?g?C
3N
4的ECL信號比值與As(III)濃度的關系實現(xiàn)對As(III)的超靈敏和選擇性檢測。
聲明:
“基于雙猝滅效應的雙波長比率電致化學發(fā)光法檢測As(III)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)