本發(fā)明涉及一種適用于檢測(cè)
電化學(xué)裝置中的缺陷的缺陷檢測(cè)方法,包括:從所述電化學(xué)裝置所接收到的至少一個(gè)變量(S)中獲得至少一個(gè)特征數(shù)值(Vali)(103),以及從所述獲得的數(shù)值中確定所述電化學(xué)裝置的至少一個(gè)缺陷(Di)。該方法包括執(zhí)行小波變換,以便從所接收到的變量(S)中獲得特征數(shù)值(Vali)。本發(fā)明還涉及實(shí)施該方法的裝置以及對(duì)應(yīng)的計(jì)算機(jī)程序。
聲明:
“檢測(cè)電化學(xué)裝置缺陷的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)