本實(shí)用新型涉及一種基于云分析的多維
電化學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),包括電化學(xué)檢測(cè)子系統(tǒng)和云分析子系統(tǒng),所述的電化學(xué)檢測(cè)子系統(tǒng)包括依次連接的陣列式電極、電化學(xué)檢測(cè)裝置和網(wǎng)絡(luò)接入終端,所述的陣列式電極包括依次層疊連接的基板、電極層和絕緣層,所述的電極層印制在基板上,電極層上的電極包括一個(gè)對(duì)電極、一個(gè)參比電極和多個(gè)工作電極,基板印制有導(dǎo)電觸點(diǎn)陣列,各觸點(diǎn)通過導(dǎo)線分別連接至對(duì)應(yīng)電極,用于接入電化學(xué)檢測(cè)裝置,所述的云分析子系統(tǒng)與網(wǎng)絡(luò)接入終端遠(yuǎn)程連接。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型通過引入多通道工作電極,可同時(shí)對(duì)復(fù)雜樣品中的多種待測(cè)物進(jìn)行檢測(cè),減少時(shí)間成本。
聲明:
“基于云分析的多維電化學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)