本發(fā)明的一個實施例公開了一種表貼晶振的可靠性篩選方法,包括:對表貼晶振進行電性能篩選測試,獲取初始測試數(shù)據(jù);對所述表貼晶振進行力學篩選測試;對所述表貼晶振進行熱學篩選測試;對所述表貼晶振進行常溫電性能參數(shù)終測篩選測試;對所述表貼晶振進行高低溫測試篩選測試;對表貼晶振進行外觀檢查非破壞性篩選測試;根據(jù)上述篩選測試結果與初始測試數(shù)據(jù)的比對結果,篩選出符合要求的表貼晶振。
聲明:
“一種表貼晶振的可靠性篩選方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)