本專利為一種航天器太陽翼熱試驗用測控溫回路檢測裝置,該裝置基于繼電器矩陣設(shè)計了一種高集成度、多通道電性能檢測電路模塊,通過測控資源模塊和信號激勵模塊的設(shè)計,實現(xiàn)對檢測電路的控制及信號采集,并對檢測裝置的控制策略進行設(shè)計,最終實現(xiàn)對太陽翼熱試驗用測、控溫線路及其裝置的導(dǎo)通、絕緣等電性能的自動化檢測,進而確保試驗電裝工藝的質(zhì)量。該裝置實現(xiàn)了單次最多49通道測溫回路、15通道控溫回路導(dǎo)通、絕緣性能的自動化檢測,將檢測用時由手動8分鐘縮短至不大于20s,為試驗現(xiàn)場工藝實施人員提供了一種有效的測試手段,提高了測控溫回路的檢測效率及可靠性。
聲明:
“一種航天器太陽翼熱試驗用測控溫回路檢測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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