本發(fā)明公開了一種光學(xué)性能檢測方法,包括:S1、在設(shè)備的光學(xué)發(fā)射器和光學(xué)接收器之間放置透光率可控的透光器件;S2、調(diào)節(jié)所述透光器件的透光率為A,獲得所述光學(xué)接收器在所述透光率為A時接收到的第一光強(qiáng)C;A<100%;S3、根據(jù)所述透光率A和所述第一光強(qiáng)C,計算所述透光器件處于完全透光狀態(tài)時的第二光強(qiáng)D;S4、判斷所述第二光強(qiáng)D是否處于所述設(shè)備的及格光強(qiáng)范圍內(nèi),若是,則所述設(shè)備的光學(xué)性能正常,若否,則所述設(shè)備的光學(xué)性能異常。采用本發(fā)明實施例,能夠通過準(zhǔn)確檢測光學(xué)接收器接收到的光強(qiáng),實現(xiàn)設(shè)備光學(xué)性能的自檢測。
聲明:
“一種光學(xué)性能檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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