本發(fā)明的目的在于提供一種單晶高溫合金冷熱疲勞性能檢測用試樣及其檢測方法,以滿足單晶合金冷熱疲勞性能測試需求。所述試樣為偏心圓環(huán)試樣,其高度為5?10毫米,外圓直徑Φ1為10?20毫米,內(nèi)圓直徑Φ2為3?10毫米,偏心圓的偏心距離m為0.5?2毫米。該試樣由單晶高溫合金制成,柱面方向為一次枝晶的生長方向,即定向凝固方向[001]方向。本發(fā)明利用偏心圓環(huán)試樣的不同壁厚在冷卻過程產(chǎn)生的應(yīng)力的不同,測量單晶合金的抗冷熱疲勞能力,測試結(jié)果更接近實際工況。
聲明:
“一種單晶高溫合金冷熱疲勞性能檢測用試樣及檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)