本發(fā)明公開了一種光電器件的電容性能檢測方法,該方法包括:確定測試電壓,所述測試電壓用于測試光電器件的電容性能,所述測試電壓為從起始電壓開始,連續(xù)上升至終止電壓,隨即所述測試電壓從所述終止電壓開始,連續(xù)下降至起始電壓結束,所述測試電壓上升的速率和下降的速率相同;將所述測試電壓加載至光電器件的兩端,根據(jù)測試電流和測試電壓的變化關系確定所述光電器件的電容性能,所述測試電流為在所述測試電壓連續(xù)變化的過程中所述光電器件上流過的電流,所述光電器件置于沒有光照的環(huán)境中。本發(fā)明通過測試電壓連續(xù)變化,并且通過改變測試電壓的上升或下降速率,準確反映了光電器件的電容性能。
聲明:
“一種光電器件的電容性能檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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