本發(fā)明公開(kāi)了一種觸控電極的電學(xué)性能檢測(cè)裝置和檢測(cè)方法,其中,該電學(xué)性能檢測(cè)裝置包括:電容形成單元和電容檢測(cè)單元,其中該電容形成單元用于與觸控電極形成電容結(jié)構(gòu),電容檢測(cè)單元用于獲取電容結(jié)構(gòu)的電容值。本發(fā)明的技術(shù)方案通過(guò)電容形成單元來(lái)與待檢測(cè)的觸控電極之間形成電容結(jié)構(gòu),然后利用電容檢測(cè)單元獲取電容結(jié)構(gòu)的電容值,此時(shí)檢測(cè)人員基于獲取到的電容結(jié)構(gòu)的電容值可對(duì)觸控電極的電學(xué)性能進(jìn)行有效且準(zhǔn)確的評(píng)估。
聲明:
“觸控電極的電學(xué)性能檢測(cè)裝置和檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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