本發(fā)明公開(kāi)了一種硅芯管整體抗拉性能檢測(cè)用輔助裝置及檢測(cè)方法,涉及硅芯管性能檢測(cè)設(shè)備的技術(shù)領(lǐng)域,其包括外殼體和設(shè)在外殼體內(nèi)的內(nèi)桿體;所述外殼體包括第一殼體、第二殼體以及用于連接第一殼體與第二殼體的鎖緊件;所述第一殼體和第二殼體相對(duì)的一側(cè)表面上分別開(kāi)設(shè)有截面為半圓形的凹槽,所述內(nèi)桿體穿設(shè)在兩個(gè)所述凹槽形成的空間內(nèi);所述內(nèi)桿體的半徑小于凹槽的半徑,所述內(nèi)桿體的外周面和凹槽的內(nèi)壁之間留有容納硅芯管的間隙;所述內(nèi)桿體的長(zhǎng)度大于凹槽的長(zhǎng)度。本發(fā)明能夠有效提高試驗(yàn)的成功率,節(jié)省硅芯試樣。
聲明:
“硅芯管整體抗拉性能檢測(cè)用輔助裝置及檢測(cè)方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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