本申請(qǐng)公開了一種重刪性能檢測(cè)方法,包括根據(jù)檢測(cè)指令確定存儲(chǔ)空間;按照預(yù)設(shè)重刪比將源數(shù)據(jù)寫入所述存儲(chǔ)空間;統(tǒng)計(jì)所述源數(shù)據(jù)在所述存儲(chǔ)空間內(nèi)的實(shí)際占用空間;根據(jù)所述實(shí)際占用空間與源數(shù)據(jù)理論占用空間計(jì)算獲得實(shí)際重刪比;判斷所述實(shí)際重刪比與所述預(yù)設(shè)重刪比是否相同;若是,則輸出檢測(cè)通過信息;該重刪性能檢測(cè)方法可以對(duì)存儲(chǔ)設(shè)備的重刪性能進(jìn)行有效檢測(cè),進(jìn)一步保證了存儲(chǔ)設(shè)備的存儲(chǔ)性能,實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。本申請(qǐng)還公開了一種重刪性能檢測(cè)裝置、設(shè)備以及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),均具有上述有益效果。
聲明:
“一種重刪性能檢測(cè)方法、裝置及其相關(guān)設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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