本發(fā)明提供種一種納米晶材料電性能檢測裝置及納米晶材料檢測系統(tǒng),其中,納米晶材料電性能檢測裝置,包括:升降平臺(tái),所述升降平臺(tái)用于承載納米晶材料;驅(qū)動(dòng)裝置,所述驅(qū)動(dòng)裝置與所述升降平臺(tái)相連,用于驅(qū)動(dòng)所述升降平臺(tái)進(jìn)行升降運(yùn)動(dòng);電檢測單元,所述電檢測單元設(shè)置在所述升降平臺(tái)的上方;壓力檢測裝置,所述壓力檢測裝置連接所述電檢測單元,用于檢測所述電檢測單元與納米晶材料之間的壓力,所述電檢測單元用于檢測在所述壓力狀態(tài)下的所述納米晶材料的電性能。根據(jù)本發(fā)明的納米晶材料電性能檢測裝置,能夠自動(dòng)化且快速穩(wěn)定地對(duì)納米晶材料的電性能進(jìn)行檢測,提高檢測效率和準(zhǔn)確性,且減少納米晶材料報(bào)廢。
聲明:
“納米晶材料電性能檢測裝置及納米晶材料檢測系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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