本申請公開一種地質(zhì)探測裝置，所公開的地質(zhì)探測裝置包括地質(zhì)探測主體、探測頭和移動架，地質(zhì)探測主體與探測頭電連接，移動架包括安裝支架，安裝支架開設有安裝槽和調(diào)節(jié)孔，安裝槽與調(diào)節(jié)孔連通，地質(zhì)探測主體設置于安裝槽中，安裝支架包括第一夾緊件和調(diào)節(jié)件，第一夾緊件設置于安裝槽中，調(diào)節(jié)件活動設置于調(diào)節(jié)孔中，且與第一夾緊件相連，調(diào)節(jié)件可與調(diào)節(jié)孔活動配合，用于驅(qū)動第一夾緊件與地質(zhì)探測主體的第一側(cè)抵接，且?guī)拥刭|(zhì)探測主體的第二側(cè)與安裝槽的內(nèi)壁抵接。上述技術方案能夠解決背景技術中所述的地質(zhì)探測裝置在移動探測地質(zhì)的過程中，由于地質(zhì)探測儀的主體發(fā)生位置偏移而對地質(zhì)探測裝置的探測精度產(chǎn)生較大影響的問題。
聲明：
“地質(zhì)探測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業(yè)用途，請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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編輯：管理員
來源：中冶有色技術網(wǎng)
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2025年03月28日 ~ 30日 
