本發(fā)明公開通過(guò)對(duì)地質(zhì)體執(zhí)行地層分析來(lái)識(shí)別并提取表示地質(zhì)構(gòu)造的一個(gè)或多個(gè)地質(zhì)體中的地層,以便無(wú)縫或無(wú)侵入地提取地層用于簡(jiǎn)單識(shí)別的系統(tǒng)和方法。
聲明:
“識(shí)別并提取表示地質(zhì)構(gòu)造的一個(gè)或多個(gè)地質(zhì)體中的地層” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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