本發(fā)明涉及工程地質勘察領域的結構面測量技術,其公開了一種基于三維激光掃描技術的結構面測量方法,解決傳統(tǒng)技術中對巖體結構面測量方式存在的工作時間長、效率低的問題。本發(fā)明利用三維激光掃描技術獲取調(diào)查窗口巖體表面激光點云,利用數(shù)碼相機獲取巖體表面真彩色數(shù)碼照片,通過三維激光點云及真彩色數(shù)碼照片識別結構面,計算結構面產(chǎn)狀,生產(chǎn)結構面出露線,測量結構面的長度、間距、連通率等。本發(fā)明適用于巖體結構面測量。
聲明:
“基于三維激光掃描技術的結構面測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)